Podle zpráv médií americké ministerstvo energetiky (DOE) nedávno vydalo svou třetí zprávu o spolehlivosti LED pohonů na základě dlouhodobého zrychleného testování životnosti. Vědci z Solid State Lighting (SSL) amerického ministerstva energetiky se domnívají, že nejnovější výsledky potvrzují, že metoda Accelerated Stress Testing (AST) prokázala dobrý výkon v různých drsných podmínkách. Kromě toho mohou výsledky testů a naměřené faktory selhání informovat vývojáře ovladačů o příslušných strategiích pro další zlepšení spolehlivosti.
Jak je dobře známo, LED drivery, stejně jako samotné LED komponenty, jsou klíčové pro optimální kvalitu světla. Vhodný design ovladače může eliminovat blikání a zajistit jednotné osvětlení. Ovladač je také nejpravděpodobnější součástí LED světel nebo svítidel, že selže. Poté, co si DOE uvědomila důležitost ovladačů, zahájila v roce 2017 dlouhodobý projekt testování ovladačů. Tento projekt zahrnuje jednokanálové a vícekanálové ovladače, které lze použít pro upevnění zařízení, jako jsou stropní drážky.
Americké ministerstvo energetiky již dříve vydalo dvě zprávy o testovacím procesu a pokroku a nyní je zveřejněna třetí zpráva o testovacích datech, která pokrývá výsledky testů produktů běžících za podmínek AST po dobu 6000-7500 hodin.
Ve skutečnosti průmysl nemá tolik času na testování disků v normálním provozním prostředí po mnoho let. Naopak, americké ministerstvo energetiky a jeho dodavatel RTI International testovali disk v prostředí, které nazývají 7575 – s vnitřní vlhkostí a teplotou trvale udržovanou na 75 °C. Tento test zahrnuje dvě fáze testování ovladače, nezávislé na kanál. Jednostupňový design stojí méně, ale postrádá samostatný obvod, který nejprve převádí střídavý proud na stejnosměrný a poté reguluje proud, což je u dvoustupňového designu jedinečné.

Zpráva amerického ministerstva energetiky uvádí, že v testech provedených na 11 různých pohonech byly všechny pohony v provozu po dobu 1000 hodin v prostředí 7575. Když je měnič umístěn v místnosti s okolním prostředím, zátěž LED připojená k měniči se nachází ve venkovních podmínkách prostředí, takže prostředí AST ovlivňuje pouze měnič. DOE nepropojilo běhové prostředí za podmínek AST s běhovým prostředím za normálních podmínek. První várka zařízení selhala po 1250 hodinách provozu, i když některá zařízení jsou stále v provozu. Po testování po dobu 4800 hodin selhalo 64 % zařízení. Nicméně vzhledem k drsnému testovacímu prostředí jsou tyto výsledky již velmi dobré.
Vědci zjistili, že k většině poruch dochází v první fázi ovladače, zejména v obvodech pro korekci účiníku (PFC) a potlačení elektromagnetického rušení (EMI). V obou fázích ovladače mají také MOSFETy chyby. Kromě označení oblastí, jako jsou PFC a MOSFET, které mohou zlepšit návrh ovladače, tento AST také naznačuje, že poruchy lze obvykle předvídat na základě monitorování výkonu ovladače. Například monitorování účiníku a rázového proudu může včas odhalit včasné poruchy. Zvýšené blikání také znamená, že hrozí porucha.
Program SSL společnosti DOE již dlouhou dobu prováděl důležité testování a výzkum v oblasti SSL, včetně testování produktu aplikačního scénáře v rámci projektu Gateway a testování výkonu komerčních produktů v rámci projektu Caliper.